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狹縫掃描式光束質(zhì)量分析儀BeamMap2

狹縫掃描式光束質(zhì)量分析儀BeamMap2

時間:2025-07-29 類別:光學(xué)檢測/分析儀器 關(guān)注:464

多平面光束剖面分析, M2、發(fā)散度、指向性和焦點(diǎn)實(shí)時測量

BeamMap2 代表了一種完全不同的實(shí)時光束分析方法。它擴(kuò)展了 Beam'R2 的測量能力,允許在光束行進(jìn)過程中的多個位置進(jìn)行測量。這種實(shí)時掃描狹縫系統(tǒng)使用旋轉(zhuǎn)圓盤上多個 Z 平面中的 XY 狹縫對同時測量四個不同 Z 位置的四個光束輪廓。BeamMap2 的獨(dú)特設(shè)計(jì)最有利于實(shí)時測量焦點(diǎn)位置、M2、光束發(fā)散和指向。

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BeamMap2 代表了一種完全不同的實(shí)時光束分析方法。它擴(kuò)展了 Beam'R2 的測量能力,允許在光束行進(jìn)過程中的多個位置進(jìn)行測量。這種實(shí)時掃描狹縫系統(tǒng)使用旋轉(zhuǎn)圓盤上多個 Z 平面中的 XY 狹縫對同時測量四個不同 Z 位置的四個光束輪廓。BeamMap2 的獨(dú)特設(shè)計(jì)最有利于實(shí)時測量焦點(diǎn)位置、M2、光束發(fā)散和指向。

BeamMap2系列狹縫掃描式光束質(zhì)量分析儀

狹縫掃描式光束質(zhì)量分析儀

主要特點(diǎn):

  • 多種探測器選項(xiàng),覆蓋 190 至 2500 nm

  • 190 至 1150 nm,硅探測器

  • 650 至 1800 nm,InGaAs 探測器

  • 1800 至 2300/2500 nm,InGaAs(擴(kuò)展)探測器

  • 符合 ISO 標(biāo)準(zhǔn)的光束直徑測量

  • 端口供電 USB 2.0

  • 自動增益功能

  • 可選載物臺配件,適用于符合 ISO 11146 標(biāo)準(zhǔn)的 M2 測量

  • True2D? 狹縫

  • 分辨率達(dá) 0.1 μm

  • 5 Hz 更新率(可調(diào)節(jié)范圍為 2 至 10 Hz)

  • 輪廓連續(xù)/準(zhǔn)連續(xù)光束

  • 光束直徑 5 μm 至 4 mm

  • 多 z 平面掃描

  • XYZ 輪廓,加上 θ-Φ

  • 焦點(diǎn)位置和直徑

  • 實(shí)時 M2、指向和發(fā)散測量

  • 以 ±1 μm 的重復(fù)性識別焦點(diǎn)(取決于光束)

典型應(yīng)用:

  • 非常小的激光光束輪廓分析

  • 光學(xué)組裝和儀器調(diào)校

  • OEM  集成

  • 鏡頭焦距測試

  • 實(shí)時診斷聚焦和對準(zhǔn)錯誤

  • 實(shí)時將多個組件設(shè)置到同一焦點(diǎn)

  • 使用可用的 M2DU 階段進(jìn)行 M2 測量

BeamMap2系列狹縫掃描式光束質(zhì)量分析儀

規(guī)格參數(shù):

項(xiàng)目說明
波長范圍Si 探測器:190 到 1150 nm
InGaAs 探測器:650 到 1800 nm
Si + InGaAs 探測器:190 到 1800 nm
Si + 擴(kuò)展 InGaAs 探測器:190 到 2300 或 2500 nm
掃描光斑直徑Si 探測器:5 μm 到 4 mm
InGaAs 探測器:10 μm 到 3 mm
擴(kuò)展 InGaAs 探測器:10 μm 到 2 mm
測量平面間距100 μm:-100, 0, +100, +400 μm
250 μm:-250, 0, +250, +1000 μm
500 μm:-500, 0, +500, +2000 μm
750 μm:-750, 0, +750, +3000 μm
光斑腰直徑測量ISO 11146 標(biāo)準(zhǔn)的二階矩(4σ)直徑
擬合高斯和平頂(TopHat)模型
1/e2(13.5%)寬度
用戶可選峰值百分比
適用于非常小光束的 Knife-Edge 模式
光斑腰位置測量X、Y、Z 三軸精度 ± 20 μm(建議聯(lián)系 DataRay 獲取推薦)
適用光源類型連續(xù)波(CW)、準(zhǔn)連續(xù)波(Quasi-CW)激光
分辨率與精度0.1 μm 或掃描范圍的 0.05%
± < 2% 或 ± 0.5 μm
M2 測量范圍:1 到 >20,精度 ± 5%
發(fā)散度 / 準(zhǔn)直度 / 指向性測量最佳可達(dá) 1 mrad(建議聯(lián)系 DataRay 獲取推薦)
最大功率與輻照度最大總功率 1 W;最大輻照度 0.5 mW/μm2
增益范圍1000:1 切換增益;ADC 范圍 4096:1
圖形顯示X-Y 位置與剖面圖縮放
倍率:x1 到 x16
刷新率~5 Hz,可調(diào)范圍 2 到 10 Hz
合格/不合格顯示屏幕可選顯示合格/不合格顏色,適合質(zhì)量檢測和生產(chǎn)使用
數(shù)據(jù)平均功能用戶可選滑動平均(1 到 8 次采樣)
統(tǒng)計(jì)功能最小值、最大值、平均值、標(biāo)準(zhǔn)差支持長時間數(shù)據(jù)記錄
XY 剖面與重心顯示支持光束漂移監(jiān)測與記錄
系統(tǒng)要求Windows 10 64 位操作系統(tǒng)

輪廓圖:

BeamMap2系列狹縫掃描式光束質(zhì)量分析儀

詳情資料:狹縫掃描式光束質(zhì)量分析儀BeamMap2系列

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