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光學(xué)檢測(cè)/分析儀器光電應(yīng)用工具激光安全與防護(hù)
狹縫掃描式光束質(zhì)量分析儀Beam-R2

狹縫掃描式光束質(zhì)量分析儀Beam-R2

時(shí)間:2025-07-29 類別:光學(xué)檢測(cè)/分析儀器 關(guān)注:442

經(jīng)濟(jì)實(shí)惠的單平面光束分析,最小分析2 μm 的光束

Beam'R2非常適合于許多激光光束分析的應(yīng)用。 通過(guò)標(biāo)準(zhǔn)的2.5μm寬度大小的狹縫和更大的刀口切面,Beam'R2能夠測(cè)量直徑小至2μm的激光光束。 通過(guò)選擇硅和InGaAs或擴(kuò)展的InGaAs,Beam'R2可以分析190 nm至2500 nm的光束。Beam'R2掃描狹縫儀器提供比基于相機(jī)的系統(tǒng)更高的分辨率。

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Beam'R2非常適合于許多激光光束分析的應(yīng)用。 通過(guò)標(biāo)準(zhǔn)的2.5μm寬度大小的狹縫和更大的刀口切面,Beam'R2能夠測(cè)量直徑小至2μm的激光光束。 通過(guò)選擇硅和InGaAs或擴(kuò)展的InGaAs,Beam'R2可以分析190  nm至2500 nm的光束。Beam'R2掃描狹縫儀器提供比基于相機(jī)的系統(tǒng)更高的分辨率。

Beam'R2系列狹縫掃描式光束質(zhì)量分析儀

產(chǎn)品特點(diǎn):

  • 多種檢測(cè)器選項(xiàng),范圍為 190 至 2500 nm

  • 190 至 1150 nm,硅探測(cè)器

  • 650 至 1800 nm,InGaAs  探測(cè)器

  • 1800 至 2300/2500 nm,InGaAs(擴(kuò)展)探測(cè)器

  • 符合 ISO 標(biāo)準(zhǔn)的光束直徑測(cè)量

  • 端口供電的 USB 2.0

  • 自動(dòng)增益功能

  • 用于符合 ISO 11146 標(biāo)準(zhǔn)的 M2 測(cè)量的可選載物臺(tái)附件

  • True2D? 狹縫

  • 分辨率達(dá) 0.1 μm

  • 5  Hz 更新速率(可調(diào) 2 至 10 Hz)

  • 剖面 CW/準(zhǔn)連續(xù)波光束

  • 光束直徑 5 μm 至 4 mm,刀鋒模式下為 2 μm

典型應(yīng)用:

  • 非常小的激光光束輪廓分析

  • 光學(xué)組裝和儀器調(diào)校

  • OEM  集成

  • 鏡頭焦距測(cè)試

  • 實(shí)時(shí)診斷聚焦和對(duì)準(zhǔn)錯(cuò)誤

  • 實(shí)時(shí)將多個(gè)組件設(shè)置到同一焦點(diǎn)

  • 使用可用的 M2DU 階段進(jìn)行 M2 測(cè)量

狹縫掃描式光束質(zhì)量分析儀

規(guī)格參數(shù):

項(xiàng)目詳情
波長(zhǎng)范圍Si 探測(cè)器:190 to 1150
nmInGaAs 探測(cè)器:650 to 1800 nm
Si + InGaAs 探測(cè)器:190 to 1800 nm
Si + 擴(kuò)展 InGaAs 探測(cè)器:190 to 2300 或 2500 nm
掃描光束直徑Si 探測(cè)器:5 μm 至 4 mm,刀口模式下最小至 2 μm
InGaAs 探測(cè)器:10 μm 至 3 mm,刀口模式下最小至 2 μm
擴(kuò)展 InGaAs 探測(cè)器:10 μm 至 2 mm,刀口模式下最小至 2 μm
光束腰直徑測(cè)量二階矩(4σ)直徑,符合 ISO 11146
Gaussian 與 Top Hat 擬合
1/e2(13.5%)寬度
用戶可選百分比峰值
適用于極小光束的刀口模式
支持測(cè)量光源CW(連續(xù)波)、Quasi-CW(準(zhǔn)連續(xù)波)光源
分辨率精度0.1 μm 或掃描范圍的 0.05%
± < 2%,或 ± = 0.5 μm
最大功率與輻照度最大總功率 1 W,最大功率密度 0.5 mW/μm2
增益范圍開(kāi)關(guān)控制增益范圍 1,000:1
ADC 動(dòng)態(tài)范圍 4,096:1
圖形顯示X-Y 位置與輪廓圖,支持 x1 至 x16 縮放
更新速率約 5 Hz,可調(diào)節(jié)范圍 2 至 10 Hz
合格/不合格顯示屏幕可選擇合格/不合格顏色,適合質(zhì)檢與生產(chǎn)使用
平均功能用戶可選運(yùn)行平均(1 至 8 次采樣)
統(tǒng)計(jì)功能最小值、最大值、平均值、標(biāo)準(zhǔn)差支持長(zhǎng)時(shí)間數(shù)據(jù)記錄
XY 輪廓與重心支持光束漂移顯示與記錄
最低系統(tǒng)要求Windows 10 64-bit

輪廓圖:

狹縫掃描式光束質(zhì)量分析儀

詳情資料:狹縫掃描式光束質(zhì)量分析儀Beam'R2系列

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