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窄帶寬參量下轉(zhuǎn)換(SPDC)及其與KTP中短輪詢周期的關(guān)系

時(shí)間:2025-04-25 來源:新特光電 訪問量:1259

窄帶寬 SPDC

最近,我們對(duì)極短極化周期的 PPKTP 晶體的需求大幅增加。這種需求主要是受窄帶 “反向傳播 SPDC ”應(yīng)用的推動(dòng),該應(yīng)用的帶寬可低至 0.06 nm 。這些窄帶寬的重要性在于它們具有將 SPDC 源與量子存儲(chǔ)器集成的潛力,在這種情況下,原子躍遷和激發(fā)輻射的帶寬匹配至關(guān)重要。晶體長度與 SPDC 帶寬之間存在反比關(guān)系,晶體越長,帶寬越窄。我們公司將繼續(xù)提高在這一領(lǐng)域的能力,目前公司提供的PPKTP晶體長度可達(dá)30毫米。這一發(fā)展表明,我們一直致力于推動(dòng)量子技術(shù)的發(fā)展,滿足光電子行業(yè)不斷變化的需求。隨著量子光學(xué)領(lǐng)域的不斷進(jìn)步,我們將繼續(xù)致力于探索創(chuàng)新解決方案,推動(dòng)PPKTP晶體制造的發(fā)展。公司在生產(chǎn)極短極化周期和更長晶體方面所做的努力,有助于推動(dòng)量子存儲(chǔ)器集成和量子技術(shù)的其他尖端應(yīng)用。

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短周期極化生產(chǎn)驗(yàn)證

作為非線性晶體制造領(lǐng)域的領(lǐng)導(dǎo)者,我們堅(jiān)持嚴(yán)格的質(zhì)量控制程序,尤其是在開發(fā)新晶體或尖端技術(shù)時(shí)。在嘗試實(shí)施短周期極化時(shí),我們面臨著鑒定和驗(yàn)證短周期極化KTP晶體的挑戰(zhàn)。雷科公司的測(cè)量測(cè)試系統(tǒng)通常是為各種波長的正向傳播二次諧波發(fā)生(SHG)和自發(fā)參量下變頻(SPDC)而設(shè)計(jì)的。然而,短周期輪詢 KTP 晶體帶來了明顯的障礙。由于在 KTP 傳輸窗口的邊緣附近沒有與短周期相對(duì)應(yīng)的正向 SHG/SPDC 過程,因此傳統(tǒng)的共線二次諧波過程不適合評(píng)估 1.2 μm 輪詢晶體。這種情況凸顯了驗(yàn)證先進(jìn)晶體技術(shù)的復(fù)雜性,也突出了 Raicol 通過創(chuàng)新測(cè)試方法確保產(chǎn)品性能的承諾。

后向二次諧波生成

有兩種不同類型的共線二次諧波發(fā)生 SHG 過程:前向傳播和后向傳播:

正向二次諧波發(fā)生器:在此過程中,倍頻光束的傳播方向與基頻光束的傳播方向相同。就 PPKTP 而言,從 800 納米泵浦到 400 納米實(shí)現(xiàn)高效倍頻的最短極化周期約為 3 μm。

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后向二次諧波發(fā)生器:在此過程中,產(chǎn)生的波會(huì)沿著與泵相反的方向傳播。

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然而,有效生成可見光波長的后向二次諧波所需的周期極短,給制造帶來了巨大挑戰(zhàn)。例如,在一階 QPM 中產(chǎn)生 829 納米光的二次諧波需要 0.109 微米的周期。

后向傳播測(cè)試臺(tái)

為了描述我們的 1.2 短極化晶體的特性,我們測(cè)量了SH的反向傳播,評(píng)估了與 1.2 μm 光柵周期的相位匹配值相匹配的 ΔK。 對(duì)于圖中所示的 ΔK 值,不存在前向過程。但對(duì)于在 33 度 PPKTP 下將 829 nm轉(zhuǎn)換為 414.4 nm的情況。

ΔK為5.754?10^7[1/m],特別適合圖中所示的 11 階相位匹配。829nm的后向二次諧波生成轉(zhuǎn)換為 414.5nm。

為了克服這一挑戰(zhàn),我們采用了一種后向傳播測(cè)試系統(tǒng),如下所述:829 nm 的泵浦光束進(jìn)入晶體,向后傳播的 SH 經(jīng)二向色鏡偏轉(zhuǎn)后到達(dá)檢測(cè)器。

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相關(guān)產(chǎn)品:PPKTP 晶體

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